Atomic Force Microscope (AFM)

Auch Scanning Force Microscope (SFM)
deutsch: "Rasterkraftmikroskopie".

1986 von Gerd Binnig et al entwickelte Mikroskopiertechnik, die es erlaubt, im Idealfall bis 0,1 nm kleine Strukturen aufzulösen, was bedeutet, dass atomare und molekulare Strukturen aufgelöst werden können. Das Messprinzip beruht auf der Messung der Bewegung einer über der Oberfläche geführten Nano-feinen Nadel.

Lesen Sie weiter unter: Rasterelektronenmikroskop (REM)