Atomic Force Microscope (AFM)

También llamado Scanning Force Microscope (SFM)
En español, microscopio de fuerza atómica. Microscopio, desarrollado en 1986 por Gerd Binnig et al., que permite distinguir estructuras diminutas, idealmente de hasta 0,1 nm, con lo que su resolución permite revelar estructuras atómicas y moleculares. El principio de medición está basado en el movimiento de una aguja nanoscópica que recorre la superficie.