原子力显微镜 (Atomic Force Microscope (AFM))
也称扫描力显微镜 (Scanning Force Microscope (SFM))
德语：“原子力显微镜 (Rasterkraftmikroskopie)”。在 1986 年由 Gerd Binnig 等人研发的显微技术，通过这项技术，在理想情况下可以分辨最小 0.1 nm 的结构，这意味着能够分辨原子结构及分子结构。此测量原理的基础是，对从表面上方导入的纳米微针的运动进行测量。
也称扫描力显微镜 (Scanning Force Microscope (SFM))
德语：“原子力显微镜 (Rasterkraftmikroskopie)”。在 1986 年由 Gerd Binnig 等人研发的显微技术，通过这项技术，在理想情况下可以分辨最小 0.1 nm 的结构，这意味着能够分辨原子结构及分子结构。此测量原理的基础是，对从表面上方导入的纳米微针的运动进行测量。
