Microscopio a forza atomica (Atomic Force Microscope, AFM)

Denominato anche Scanning Force Microscope (SFM):
"microscopio a scansione di forza". Tecnica di microscopia sviluppata nel 1986 da Gerd Binnig e altri, che permette idealmente di separare piccole strutture fino a 0,1 nm, il che significa che le strutture atomiche e molecolari possono essere dissolte. Il principio di misurazione si basa sulla misurazione del movimento di un ago nano-fine guidato sulla superficie.