Atomic Force Microscope (AFM)

ou aussi Scanning Force Microscope (SFM)
En français : « Microscopie à force de balayage ». Technique de microscopie développée en 1986 par Gerd Binnig et al, qui permet dans le cas idéal de résoudre de petites structures jusqu'à 0,1 nm, ce qui signifie que les structures atomiques et moléculaires peuvent être résolues. Le principe de mesure est basé sur la mesure du mouvement d'une aiguille nanofine guidée sur la surface.