Atomic Force Microscope (AFM)

Переводится как «Сканирующая атомно-силовая микроскопия». Разработанная в 1986 году Гердом Биннигом технология микроскопии, в идеальных условиях позволяющая анализировать структуры размером до 0,1 нм, т.е. различать атомарные и молекулярные структуры. Принцип измерения основан на регистрации движения наноразмерной иглы, проводимой по поверхности образца.