3D 雷射掃描顯微鏡
我們使用 Keyence 的 3D 雷射掃描顯微鏡來量測表面粗糙度。非接觸式粗糙度量測系統使用兩種光源： 雷射光與白光。此顯微鏡具有極佳的景深，非常適合最精確的觀察和 3D 量測。
接触角测量
评估等离子工艺流程的一种更精确的方法是，通过测试液体测量接触角。
以精确计量将微量的液滴（等级 1 µl）施加到组件表面上。CCD 相机将液滴形状和接触角传送到计算机进行评估。
我们的实验室配备了 Dataphysics 公司的接触角测量装置。除了在平面或曲面上进行的常规静态测量外，还可以测量和记录接触角的时间变化曲线。将使用 H2O、二碘甲烷或乙二醇作为测试介质。
通过测量所有三种测试介质的接触角，然后应用“杨氏方程”，可以计算出表面能的极性分量或色散分量。
接触角测量
评估等离子工艺流程的一种更精确的方法是，通过测试液体测量接触角。
以精确计量将微量的液滴（等级 1 µl）施加到组件表面上。CCD 相机将液滴形状和接触角传送到计算机进行评估。
我们的实验室配备了 Dataphysics 公司的接触角测量装置。除了在平面或曲面上进行的常规静态测量外，还可以测量和记录接触角的时间变化曲线。将使用 H2O、二碘甲烷或乙二醇作为测试介质。
通过测量所有三种测试介质的接触角，然后应用“杨氏方程”，可以计算出表面能的极性分量或色散分量。
REM
当光学显微镜达到其分辨率极限时，我们将会切换到我们来自 Hitachi 公司的 REM“TM 3.000”。特别是对于等离子蚀刻方法，REM 的分辨率范围对于工艺开发是必不可少的。
层厚度测量
在涂覆工艺流程中，层厚度是核心问题。等离子涂覆装置在纳米 [nm] 到较低微米 [µm] 的范围内移动。为了确定工艺流程或保证质量，我们“用触觉”测量层厚度：
在涂覆工艺流程期间，一起涂覆相同批次的测试玻璃。通过 掩膜只能对部分测试玻璃进行涂覆：此工艺流程结束后，移除掩膜并在已涂覆 和未涂覆的 测试玻璃之间保留一个干净的台阶。
此时，在 Veeco 公司自制的 DEKTAK 150 上，一根金刚石针将会自动驶过台阶并测量所达到的层厚度。分辨率范围开始于大约 0.5 nm，结束于大约 200 μm。
层厚度测量的另一个用途是保证聚对二甲苯涂层的质量。聚对二甲苯涂层的特性主要取决于层厚度。
当然了，除了涂覆工艺流程，在蚀刻工艺流程中也会应用相同的测量。通过这种方法，可以确定蚀刻速率或者测量等离子设备中的均匀性/分布。
拉伸试验机
等离子清洗和等离子活化的大部分用途是改善粘接的粘合性。在我们的实验室中，提供有用于所有简单粘接的外围设备（样品制备、化学设备、混合器、退火炉等）。此外我们还建议您，将您的特殊设备带给我们（紫外线粘接装置、夹紧装置等），以实现最佳粘接效果。
我们会通过 Zwick 公司的拉伸试验机进行拉伸试验、剪切试验等。由此，即可在同一天内在实验室进行各种试验，并在现场进行评估。
斜面
此斜面用于检查润滑涂层。通过测试砝码将要测试的组件放置在可移动平面上。通过自动翻转平面 0°…< 90° 进行测量。当组件从静止状态开始滑动时，测量停止并读取所谓的“滑移角”。
测试墨水
在诸多应用中，其取决于所谓的“表面能”，简单来说：组件表面想要与粘合剂/涂料/化合物铸件等类似物粘接的牢固程度。
用所谓的“测试油墨”以最简单的方式进行表面能的测量。将具有定义的表面能的液体涂抹到组件上。根据涂抹后液体的特性（测试油墨滚落、润湿或摊开），确定表面能的值。
测试油墨将在我们的工厂中进行生产和灌装。其可用增量为 28 mN / m 到 105 mN / m。
色度计
分光光度计 sph900 可以客观地确定颜色样本和给定颜色标准之间的颜色状态。45°/0° 测量几何形状 – 0° 时的测量、45° 时的圆形照明 - 符合 DIN 标准 5033。我们的分光光度计配备有高分辨率和高对比度的 O-LED 显示屏。灵活的外部测量头具有一个较小的测试点，由此也可以测量较小样品，例如我们的低压指示剂。
凭借频谱测量，我们可以确保我们的低压指示剂具有卓越的质量和长期可重复性。
等离子体指示剂
等离子体指示剂是涂有碳聚合物 的粘性标签。
根据工艺流程持续时间应用不同的层厚度。等离子工艺流程成功后，碳聚合物将会溶解并留下一个白色区域。以此，首次可以一目了然地对成功的等离子处理加以证明。在此之前，这只能通过耗费较高的技术才能实现。
大宗小件涂覆
通过大宗小件涂覆装置，我们可以高效且经济地为您涂覆大量较小的工件。
我们专门为此设计的设备可确保流程顺畅。凭借我们的专业知识，一定会让您获得出色的结果，不负您的信任
凭借我们在大宗小件涂覆领域的大量专业知识，我们不仅是有偿涂覆方面的服务提供商，而且还会作为顾问和出主意者为我们的客户提供帮助。
