TOF-SIMS

ионныйлуч. На основании времени полета выброшенных вторичных ионов точно определяется масса элемента и сам элемент.

вернуться к глоссарию

+49 7458 99931-0

Поговорите с экспертом

info@plasma.com

Напишите нам

Запросить предложение

Вы точно знаете, что ищете