Atomic Force Microscope (AFM)

还包括 Scanning Force Microscope (SFM)
中文: “原子力显微镜”。

Gerd Binnig 等在 1986 年研发了显微技术,通过这种技术最佳情况下可分辨最小 0.1 nm 的结构,这意味着能够分辨原子结构及分子结构。从表面上方导入米微细针,并对其运动进行测量,这是这种测量原理的基础。

Femto TEM
在专用设备 Femto TEM 中为透射电子显微术制备薄膜样品。